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軟件定制服務(智能化產品測試、測試數據報表、ERP對接等多種測試需求)

產品屬性本產品采購屬于商業貿易行為

軟件定制服務(智能化產品測試、測試數據報表、ERP對接等多種測試需求)
  • 市場價格: 電議
  • 產品型號:
  • 更新時間: 2021/9/4 15:35:26
  • 發布時間: 2021/9/4 15:35:26
  • 生產地: 中國大陸
  • 訪問次數: 13次
  • 公司名稱: 全儀測控(深圳)有限公司

企業檔案

全儀測控(深圳)有限公司

企業類型:生產商

公司地址:深圳市龍華區民治街道上芬社區融創智匯大廈C座

主營產品:5G產品、射頻/微波、手機組件的高頻測試及配套自動化;晶圓的特性、射頻及毫米波的測試測量系統;網分/頻譜的測試測量軟件定制,其它定制軟件開發外包服務;射頻/微波系統的測試測量與生產制造技術咨詢;測試測量附件及組件(矩陣、治具、校準件、耗材等);

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產品簡介

全儀測控”可提供軟件定制服務,根據客戶要求可提供包含:智能化產品測試、測試數據報表、ERP對接等多種測試需求。

詳細內容

公司簡介

全儀測控”可提供軟件定制服務,根據客戶要求可提供包含:智能化產品測試、測試數據報表、ERP對接等多種測試需求。測試參數豐富多樣,以各類型高速線纜的特性測試為例,可提供以下參數的測試服務:

1. 特性阻抗測試Characteristic Impedance),使用儀器:TDR/NA 

2. 差分阻抗測試Differential Impedance),使用儀器:TDR/NA

3. 共模阻抗/同模阻抗測試Common Mode Impedance ,使用儀器:TDR

4. 單端阻抗測試Single-end Mode Impedance),使用儀器:TDR/NA

5. 連接器阻抗測試Connector Impedance),使用儀器:TDR

6. 輸入阻抗測試(開路-短路法) Zin-OS(Zinput –Open-Short),使用儀器:NA

7. 平滑阻抗測試Fitter-CharZ),使用儀器:NA

8. 衰減測試Attenuation),使用儀器:NA

9. 插入損耗測試Insertion Loss,使用儀器:NA

10. 單端模式衰減測試Single-end Mode Attenuation),使用儀器:NA

11. 差分延遲測試Differential Delay),使用儀器:TDR

12. 傳輸延遲測試Propagation Delay),使用儀器:TDR/NA

13. 共模延遲測試Common Mode Delay),使用儀器:TDR

14. 對間延遲差測試Inter-Pair Skew)使用儀器:TDR

15. 對內延遲差測試Intra-Pair Skew)使用儀器:TDR

16. 近端串音測試Near-end Crosstalk(NEXT),使用儀器:TDR/NA

17. 遠端串音測試Far-end Crosstalk(FEXT),使用儀器:TDR/NA

18. 近端串音功率和測試Power Sum Near-EndCrosstalk) (PSNEXT),使用儀器:NA

19. 遠端串音功率和測試Power Sum Far-EndCrosstalk) (PSNEXT),使用儀器:NA

20. 等位遠端串音測試EL Far-end Crosstalk),使用儀器:NA

21. 等位遠端串音功率和測試EL Power Sum Far-EndCrosstalk),使用儀器:NA

22.上升時間衰退或頻寬測試Rise Time Degradation or Bandwidth),使用儀器:TDR

23. 回波損耗測試 Return loss(RL),使用儀器: NA

24. 結構回波損耗測試Structural Return Loss(SRL) ,使用儀器:NA

25. 電壓駐波比/駐波比測試Voltage Stranding Wave Ratio / Stranding Wave Ratio(VSWR/SWR)  ,使用儀器:NA

26. 眼狀圖測試Eye Pattern/Eye Diagram),使用儀器:TDR

27. 電容測試Capacitance),使用儀器:LCR meter

28. 大直流電阻Maximum D-C Resistance),使用儀器:LCR meter

29. 大直流電阻不平衡(%) 測試Max D-C Resistance Unbalance),使用儀器:LCR meter

30. 大對地電容不平衡測試Max PR-TO-GND Capacitance Unbalance),使用儀器:LCR meter

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關鍵詞:特性阻抗測試  差分阻抗測試  共模阻抗  單端阻抗測試  衰減測試  插入損耗測試  傳輸延遲測試  

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